바로가기 메뉴
본문 바로가기
푸터 바로가기
TOP

 

2T-Embedded Flash Memory using Standard 28nm Logic CMOS Technology

저자

Jonghyun Ko et al.

저널 정보

IEEE Electron Device Letters

출간연도

2026

2T-Embedded Flash Memory using Standard 28nm Logic CMOS Technology