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서울대학교 서울대학교 이종호 교수님 연구실

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Comparative study of electrical instabilities in top-gate InGaZnO thin film transistors with and gate dielectrics

저자

Jeong-Min Lee et al.

저널 정보

Applied Physics Letters

출간연도

2009

링크

https://doi.org/10.1063/1.3151865

Comparative study of electrical instabilities in top-gate InGaZnO thin film transistors with and gate dielectrics

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